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| >>恒溫恒濕試驗箱所滿足的標準 |
| 恒溫恒濕試驗箱所滿足的標準 |
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| 時間：2012/2/10 |
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恒溫恒濕試驗箱所滿足的標準有：GB/T2423.3 GB/T10586-2006 GB/T5170.5-2008等標準，也可根據(jù)客戶的要求非標定做。
GB/T2423.3 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.3適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性。
規(guī)定了試驗和嚴酷等級、如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。適用于散熱和非散熱樣品。
適用于小型設(shè)備及元件，同時也適用于與試驗箱外的測試裝置有復雜連接的大型設(shè)備，這種連接需要一定的裝配時間。在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。
GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006規(guī)定了溫熱試驗箱的術(shù)語和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標志、包裝、貯存。
適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行溫熱試驗的試驗箱。
GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.5-2008規(guī)定了溫熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
適用于對GB/T2423.3《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉》所用戶試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。
適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。 |
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相關(guān)資料 |
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